Röntgenfluoreszenzanalyse
Halbleiter Wafer
Typische Schichten im Bereich dieser Anwendung sind:
- Zinn, Zinn Legierungen
- Kupfer
- Nickel
- Silber
- Gold
Diese Messaufgaben können von fast allen Geräten der Bowman Serien erledigt werden.
Die Wahl des Gerätes orientiert sich daher am besten an:
- Messfleckgröße
- Teiletopografie
- Teilegröße
Je nach Messaufgabe kommen folgende Geräte in Betracht:
