Bremsbeläge

Bremsbeläge bestehen aus verschiedenen Bindemitteln, Schleifmitteln, Materialien für Struktur und Leistung sowie Füllstoffen. Zu den Rohstoffen zählen viele Materialien, darunter organische Stoffe, Harze, Glas, Metallspäne und Metallverbindungen, Mineralien, Petrolkoks und Keramik. Die Rohstoffe werden in verschiedenen Anteilen miteinander gemischt, um die gewünschten Produktspezifikationen und die notwendigen Leistungen zu erreichen. Die Überwachung der Elementzusammensetzung während des Misch- und Produktionsprozesses ist für die Gewährleistung einer optimalen Produktqualität und -spezifikation von entscheidender Bedeutung. Mit dem NEX CG von Applied Rigaku Technologies können diese Anforderungen schnell und einfach erfüllt werden. Das NEX CG EDRFA kann sowohl von technischen als auch von nichttechnischen AnwendernInnen eingesetzt werden, um schnell und einfach die Elementzusammensetzung bei der Qualitätsprüfung von Rohstoffen, der Kontrolle von Materialmischungen oder der Fehleranalyse zu ermitteln.

Pulverproben werden in 32-mm-RFA-Probenbecher gefüllt und mit einer manuellen Probenpresse bei einem Drehmoment von 28 Nm verdichtet wird. Ganze Bremsbeläge werden flach über dem Messbereich aufgelegt.

Bei der Herstellung von Bremsbelägen werden viele verschiedene und dispergierende Materialien verwendet, deren Mischungen äußerst komplex sein können. Eine empirische Analyse ist selbstverständlich möglich, erfordert aber eine große Anzahl matrixangepasster Kalibrierproben. Die komplexe Zusammensetzung von Reibbelägen führt deshalb sehr schnell zum Einsatz von Fundamentalparameter Kalibrierungen. Auf Basis der Systemempfindlichkeit und den Zusammenhängen der Elementverteilungen in einer Matrix können damit die Konzentrationen berechnet werden.

Rigaku EDRFA (Energiedispersive Röntgenfluoreszenz) ist eine zerstörungsfreie, schnelle und einfache Messtechnik, die ideal für den industriellen Einsatz ist. Der NEX CG-Analysator ist ausgezeichnet für die Analyse der Gesamtelementzusammensetzung im Bereich zwischen Na und U geeignet. Sekundärtargets und Polarisation in kartesischer Geometrie sorgen für eine monochromatische Primärstrahlung, bei starker Reduzierung der Untergrundstrahlung. Das sind beste Voraussetzungen zur Messung komplexer Gemische und zur Spurenelementanalyse.